[PDF] Conception et caractérisation de structures sub-longueur donde





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SOUTENANCE DE THESE DE CHRISTELLE TUAMBILANGANA

Le 18 mai 2015 à 10h au LPN en salle Richard Planel (Bât. D1), devant le jury composé de :

M. Renaud BachelotRapporteur

M. Nicolas BonodRapporteur

M. Pierre ChavelExaminateur

M. Thomas CoudreauExaminateur

M. Fabrice PardoEncadrant

M. Riad HaïdarDirecteur de thèse

Conception et caractérisation de structures sub-longueur d'onde pour l'infrarouge Les travaux de cette thèse portent sur la conception de structures sub-longueur d'onde pour l'optique infrarouge. Deux approches se distinguent.

En premier lieu, j'ai étudié une méthode indirecte de caractérisation optique applicable à desstructures sub-longueur d'onde considérées comme des matériaux homogènes : elle consiste à

mesurer par spectroscopie infrarouge les intensités diffractées par des réseaux de période

très grande devant la longueur d'onde, et constitués du matériau à caractériser. J'ai mis en

oeuvre cette méthode dans le but de la valider en déterminant l'indice de réfraction complexedu nitrure de silicium. J'ai également proposé d'appliquer cette méthode à des nanomatériaux

artificiels dans le but de caractériser leur anisotropie et de mettre en évidence le phénomène

de dispersion spatiale spécifique au domaine sub-longueur d'onde, dont dépendent

étroitement les propriétés optiques.

Dans un second temps, j'ai introduit un formalisme matriciel pour concevoir des filtresinfrarouge passe-bande sur substrat. Dans ce cas, les propriétés optiques des structures sub-

longueur d'onde métal-diélectriques étudiées sont dues à des résonances de modes guidés

résultant de l'interaction complexe de plusieurs ordres diffractés entre eux. Ce formalismepermet de modéliser la réponse optique des filtres, et de définir un critère de symétrie. J'ai

finalement montré qu'il est possible de concevoir des filtres symétriques sur substrat, et par là

même d'optimiser leur réponse optique en termes de maximum de transmission, de facteur de

qualité, de tolérance angulaire et d'efficacité de réjection.Pour venir au LPN : www.lpn.cnrs.fr/fr/Commun/Acces.php

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